NB-T20707-2023核电厂铁素体钢焊缝相控阵超声检测.docx

ICS27.120.20CCSF69NB中华人民共和国能源行业标准NBZT20707-2023核电厂铁素体钢焊缝相控阵超声检验Phasedarrayu1.trasonicCXaminatiOnofferritkWekISinnuc1.earpowerp1.ants9f1.9a-Q-总相2024-04T1实Ifc国家能源局前言Ii1范围I2规范性引用文件13术语和定义I4一般要求25检验方法66缺陷记录147质量分级158检险报告16本文件按照GB,TI.I202哈出的规则起草.本文件由能源行业核电标准化技术委员提出。本文佳由中国核电发展中心归口，本文件负费起草单位：中核武汉核电运行技术股份有限公nJ.本部分参加起草单位：国核电站运行服务技术有限公司、中广核校验技术有限公司、东方电气（广州）31型机器有眼公司。本部分主要起草人：谢航，乐勇,蔡家蒲，马亮，余哲，邓黎，许远欢,肖显武,徐以凯,周路生，王彬，罗知.核电厂铁素体钢焊缝相控阵超声检验本文件规定了制造安奘期间核电厂外径大于32mm.厚度3.5mm-350mm的快素体钢全焊透对接ft*耀和全焊透角接焊缝相控阵超声检验一般要求、检验方法、缺陷记录、验收标准和检依报告簪要求，对于运行期间核电厂钛素体钢焊缱相控阵超声检脸，以及其他细品低衰犍金属材料焊缱相控阵超声检验，可卷照本文件的规定进行。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是让日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB.T12604无损检测术请由声检测JB"11779无损检测仪器相控阵超声检测仪技术条件JBT11731无损检测超声和抄阵探头通用技术条件JBZT8428无损检测超声试块通用规范NB/T47013.15承压设备无损检测第15部分：相控阵超的检测3术语和定义GBrrI26OM界定的以及下列术语和定义适用于本文件.坐标定义coordinatedefinition检胎起始点为烟缝的参考0点，X轴沿焊缝长度方向，Y轴沿焊缝宽度方向，Z轴沿焊缝深度方向,如图1所示.0扫杳起始参考点；X一一焊缝长度方向:Y烽维宽欧方向：Z焊缝深度方向。S13标定义32线扫描1.ineare1.ectronicscanning(1.scan)采用不同的阵元组和相同聚焦法W1.每到的声束，沿相控阵探头阵元排列方向扫描被检工件.33J1.1.扫描sectoria1.e1.ectronicscanning(S-scan)采用相同的阵元组和不同角度的整佐法则得到的声束,在一定的角友范围内扫描被检工件3.4皴帧1.ongitudina1.scan纵向扫杳是指探头沿焊缝长度方向移动的扫查方式，根据探头声束方向与探头移动方向的相对关系,分为纵向率出扫查、纵向平行扫杳和纵向倾斜扫杳等，圾向垂直扫查是探头沿焊缱X方向移动，探头声束方向垂直于方向：纵向平行扫查是探头沿焊方向移动,探头声束方向平行于饵缝X方向：板向帧斜扫自是探头沿焊缝X方向移动，探头声束方向与探头移动方向呈定夹角。如图2所示.a)纵向垂直扫查b)纵向平行扫杳C）纵向帧斜扫有横向平行扫查transversescanvithpara1.1.e1.beta横向平行扫杳是探头沿岸缝Y方向移动,探头声束方向相直于焊缝丫方向的扫查方式.,声束方向探头移动方向K3模育平行扫去3.6探头位Qobeposition)探头位置指和控阵探头即离焊筵中心线的位J1.或同一相控阵探头采用不同激发孔径时.共激发孔径矩因焊缱中心处的位B1.4一依戛求4.1 检验人员从小核电厂铁素体钢焊战的相拄阵序声检验人员应涵足4民用核安全设法无损检会人员资格管理规定中关于无损检验人员资格管理规定的要求,取得超声检验技术资格.并通过相控阵超声专项培训.4.2 设备和材4.2.1 仪和探头4.2.1.1 仪IH1.能仪器的电气性能和基本功能应满足甜录A的要求.仅寄每年或维修后,应进行检定或校准，以评价其是否满足使用要求。4.2.1.2 舞头性能探头的性能指标应涵足附录B的要求.<2.1.31.f1.*tttt应按照NB，T47013.15中的要求对枕脸仪器和探头的组合性能进行测试,测试内容及要求如下ra）垂直线性偏差不大于5%;b）水平找性偏差不大于1%;c）仪器和探头的姐合顺率与探头标称斓率之间偏差不大于土10%;d>仪器、探头及连接电谈的功能IE常，4.2.2扫充装量扫查装置收包括探头夹持部分、州动部分及位咫传海器.探头夹持部分应使调整和设湿探头位近.扫ft时保持探头相对如点和相对角度不变，用动部分可以采用电机或人工删动，位置传照器应使HI：牌记业探头的位置,满足扫查成像的精度要求,当位移30Omm以上，仪器中枝示的位移与实际位移误差应小于1%.2.3试坡4.2.3.1 务准试块标潴试块是用于评价相控阵超声桧验仪塞探头系统性能的试块.本文件采用的标潴试块为JB/T8428中的CSK4A试块和NB，T47013.1S中的A型相控降试块以及B型相控阵试块，如标准试块外形不适合相控阵超声检验仪器探头系统性健测试，可参考上述标准试块要求加工相应的性能测试试块.4.2.3.2 对比试快4.2.3.2.1 炳比试块材料对比试块的材料应满足下列要求之一；a）被检工件的延长段：b）材料牌弓和热处理状态与被检工件相同的余料：O声学特性与被检工件相近的材料.当被检I：件彳不然铜堆焊层时,对比试块也应加I：相应的不锈钢堆焊层.4.2.3.2.2 对比试W曲率对比试块表面曲率应涵足以下要求：a）对于直径大于成等于632mm（1.!小子中159mm的工件，应使用曲面对比试块，任何单一曲面试块可用于表面曲率在试块口径Q,9'1.Ifft范附内的工件检验，b）对于直径大干或等于e159但小于成等于500mm的工件，应使用曲面对比试块。任何单一曲率的曲面试块可用于表面向率在试块直径0.91.5倍范国内的工件检验.O对于直一大于65。Omm但小子200Omm的工件,可使用曲面对比试块或平面对比试块“使用曲面对比试块时任何单一曲率的曲面试块可用于表面曲率在试块直径0.91.5倍范国内的1：件检验：使用平面试块时应进行农面曲率补偿.d）对于直径大于或等于2000mm的工件，可使用曲面对比试块或平面对比试生.使用曲面对比试块时任何单一曲率的曲面试块可用于表面曲率在试块H.径0.91.5倍范国内的工件检验：使用平面对比试块时不淅进行我而曲率补偿.4.2.3.2.3 对比试块费”求对比试块衣面粗糙度应与被依工件相当，当优于被检工件时,应进行适当的衣面相合补偿.42.3.2.4对比IC块及用于制作对比试块的材料应采用直探头进行全面扫查.探头声束经过的路径不得存在大于或等于62mm平底孔当量的缺陷肢示.4.2.3.2.5时比W1.反射体的M工要求考反射体机加工要求应满足JB/T8128公考反射体的相关要求,4.3 合剂耦合剂应具有透声性较好,I1.小损伤被口龙面的性质.如机油、化学浆糊、甘油和水等.对于具有不精钢埴墀层的被检工件，若在不锈钢地煤层侧进行序滔扫衣，璃合剂中卤素氮,和械）的总含状不应大于250ppm.检监系统标定用就合剂应与检验实施用糖合剂保持相同.4.4 M三MttS应在相控阵超声仪中设置以下&致.并生成相应的聚焦法则Ia）探头r设置中心版率、晶片数量、降元中心间距、隆元向隙及阵元长度：b）快块I设置楔块尺寸、楔块角度及根块声速Ic）阵元I设定激活阵元的起始序号、激活的阵元数量及阵元相对楔块的位笈：d）声束扫描形式和参数：采用崩扫描应设定在工件中所用的声束角度范阳和为位步进间闲,采用线扫描应设定在工件中所用的角度：O检的范国：设定在工件中的声程或深度：f）工件：设定被检工件的洪波声速或横波声速以及印度等信息：g）聚处参数：造择聚位方式，设定聚俅声程或聚侬深度等卷数.4.5 ttftM检验Mi程应至少包拈表1和卜列内容,当Mi程内容发生变化时,应时规程进行修订及开版.a）检验规程版本号：b）适用范阳:c）适用的标准、法规或其他技术文件：d）检脸人员资格：C）检验设备和器材：检验仪器、探头、箱合剂、扫查装置、标准试块和对比试块：0检验区域和去面状况：g）检脸技术：灵敏度设置、扫描方式、扫杳方向及扫查范困:h）检验记录要求：i）检验结果的评定：j）检验报告的要求：k）编制者、审核者和批准者，编制11期，*1相控阵/声检燃蹄及的相关文It序号检验规程要求而要变索或柞明要变索1被依工件类型，几何形状和工件规格等*要变索2扫查抑翟求K要变素3仪器型号血要变我4相控方探头类理及参数（阵7匕氏度.宽收、何藻.ttt）4要变案5声波在材料中传笫的角ff（角项薄用）和波里亚要变案6根块尺寸及用IJ次要变素7聚生器Stat婴变案8密发孔径尺寸（激发阵元数M.激发孔径长度和在也）1S9扫描方式（帛扫描或线扫描）*要变索IO标准试块及对比试块电要变素I1.灵班度设妆4要变案12扫杳方向及扫好范围4要变案13数据分析和解释重要变农It验收标准（Biit等线）孤要变案IS然合剂类型IhR要变素16人员资格要求作案17数第记求介质非IR要变素4.6 检Ift1.m1.tiE4.6.1 遁用范B1.首次对该类型被检工件进行相控附超声检验时.或者被检工件的特件、检验条件和检验参数的变化显著影响检验结果时，应进行检验规程验证。相关产品设计文件或采照技术文件有要求时应进行检验规程验证.4.6.2 -MBJH检验规程验证应遵循以下原则：a）脸证过程中的测试,应以含有代表性缺陷的验证试件为检验对望.其中,代表性映陷可为人工舂考反射体或实际制造缺陷，其性质、位汽、分布、尺寸、取向等应具有代去性，能筋满足验证检验的目的和要求.实际制造缺陷如裂纹、未熔合、未焊透、夹渔和气孔等：b）承担无损检脸工作的单位应对裟证时的检脸要求、检验规程、胎证试件和检验结果进行记录井形成有面文件：C）承担无损检验工作的单位应按有效的检5金规程进行检验,证明规程所描述的方法和技术、检验系统等在缺陷检验和评定等方面能够满足检骁目的和要求.当检验规程中的表1中所列的重要变素规定的数值或数值能用变更时,应对检脸规程进行重新验证.非重要变本规定的数值或数值范国变更时，不暨求对检验规程进行重新粉证.£74.7.1 ->*探头移动区域应清除焊接飞溅、铁阳、油垢及其它杂质.工件衣面应平整,便于探头的移动，其表面粗糙度RaW6.3m.如果不能满足表面粗糙度要求,可采用机械打磨等方法进行表面处理.4.7.2应去除焊缝余高，将余高打磨到与优近母材平齐.焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等应进行适当的修磨，并作惘/过披以免影响检脸结果的评定.4.7.3 角接网角接焊缝表面和母材灰面应圆滑过渡,不应出现咬边或沟悟.焊缝内衣面若可达，应采用适当机械方法予以平整，4.7.4 8环境条件检脸时，对比试块温度与被检工件衣面的温度差应在14'C以内。5检船法5.1 检准备5.1.1 0区域焊绘的相捽阵超声检验区域包括焊缝金蟠及两例相邻的母材.材料公称厚度任30nmH,两侧相邻母材的检验范用为距离实际坡口至少5mm或实际热影响区；材料公称双度030mm时，两侧相邻母材的检验范围为距离实际坡11至少IOmm或实际热影响区.5.1.2 tmft检验时，时斜探头扫查出束钱过的理材区域,应采用和控阵超声直入射纵波探头（或常规超声宜探头）进行检验，以便发现是否有影响到探头检验结果的分层或其他类型缺陷存在，并作记录，但不作为理材的验收要求.设置一次声程段大处的4»5mm平底孔回波高度至满解80队作为扫查灵敬度,在扫查灵敏度情况下.记录并在工件上标识出显示回波超过1值满屏高度的部位。当技术条件有其他相关规定时按技术条件要求执行.5.2 相姓阵探头能敬的选撵5.2.1 TJa求相控阵探头的标林频率一般为2MHz-IOMHz.一般采用一雉线阵相控阵探头进彳松族,可采用扇扫描和（或）线扫描方式,也可用其他形式相柱阵探头,如二维面阵相捽阵探头.纵波出入射声束做斜角不宜超过±3。'，斜入射时探头扇打描声束角度不宜超过槐块折射为±20°。采用两种或两种以上角度进行戏扫描时，则浅扫描角度差至少为1（.相控阵探头应与工件衣面接触良好,曲面工件依好时,探头楔块与被检工件接触面的最大间网应小TO1.5mn5.2.2 入射横度相控阵超声探头（斜入射横波相控降超声探头参数可参考表2.«2一入aM相控阵探头M选锋推尊工件厚度mn激发孔径m标称姨率/MHz阵元长度mn城扫角度（横波）。各注35156-12S-IO6'1040'72>1S-<O吁4-108'1438'70>40-10010-202-7.58'14深度Omr80三4870)i-IO12'22深度>8011m'20011113865>1.'20010-202-58'14潦度Onm80t11n:38'7016-1012'22潦度8。Uf1.r200ran:3865>200'35010-202-58'14深度011"J80m:38'70Q1.所1012v22深度80mn'200111138,65>282Ov3O深度>20Onnrs50run:38、60注：（1）该探头可用于近表面耨入射横波战扫描,1.1 .3*入射巅波相拄眸超声探头直入射纵波相拄阵超声探头参数可参芍表3.»3亶入射锹相控阵探头f1.（途绛推幕我工件原收W）标称领率/MHz激发孔程面枳mr*束似科向（推波）r法注6-205'IO40'80:1:30>20'603.5'7.560'160±30>60'3502'5120'200±15注：（D该探头可用于近表面直入射纵波线扫描5.3当检验*程范围在50mm以卜时，聚焦位置Ur以设观在最大检的声程处；当检验声程范围在50mm以上时，聚焦位置可以选押检监声程范困的中间俄或其他适当再程，在对缺陷显示进行准确定收时，或对特定I又域检脸甯要获得更高的灵敏度和分辨力时,可将聚焦位Kt设肘在该区域,采用携扫描时.角度步进应小于或等于I".阵元数跳要根据被扮工件厚度选择.般情况卜扇扫描检验时单次激发的阵元数量不得低于16,城扫描进行检验时单次激发阵元数量不得低于8.5.4 ）考反酎体对比试块的参考反射体为平行于试块扫杳面的横孔，横孔孔径和位置地表心参考反射体加工于试块的宽度方向并平行于扫查面.对于曲面对比试块,必要时应分别设计用于织向缺陷和横向缺陷检.脸的灵敏度设置用参考反射体.«4反射体尺寸和位工件原度tn反射体直径/tin推荐试块厚度首个反射体到上表面邪J/am反射体间隔/«13.5-61.2133>675255>15-502t10Ki>50-1002t2020>100-2002t3030>2006t30305.5 AMttI应采用角度增益补偿（ACG）和时间增益补偿（TCG）迸行以敏度设置.检脸开始前，按选用的相控阵超声仪和探头在对比试块上进行灵敏度设置.标定的深度（声程）范国应至少包括检验拟留施的深度（泮程）范围，标定所使用的会考反射体般不少于3个不同深度，将参考反射体回波调至满屏高度的80%作为基准灵敏度G.探头扫查时.应在基准灵敏度GO的基础上.提高仪源增益,必要时考虑表面出合补偿使得技检工件中声程最远处可能存在的与记录间值倜度相当的缺陷显示I可波高度,为在满屏高度的40%,此时仪器的增费值作为扫变灵敏度.缺陷显示记录阈值见表5。表5工件耳度记求网侦3.5-6172dB(即Goi2dB)2-14dB(W(k>-1.1.dB)>200-3506-13dB(B1.G-13dB)对于较大厚度的焊缝，无法,次完成整体焊缝金深度范用的TCG和ACG以敢度设置时，应按厚度方向采用分区的方式进行TcG和ACG及敏度设罚，5.65.6.1 震犊时机下列情况需要对检验系统进行更核：a）每次检验结束时：b）对于手动扫查每间隔4小时.对于自动扫查每间隔12小时：C）更换仪帮.探头、电控或隅合剂：d）检脸人员对检险系统的有效性存在怀疑时，5.6.2 震犊的内存和要求应对灵敏度、深度、失效阵元数依和位置住形器进行红核,笑核时应同初始设过时使用相同的试块,双核时应至少选择三个反射体，若女核时发现初始设置的参数偏离，应按表6的规定执行。«6黛松的倒拄和纠正JR目蝌期到正”核时灵敏收-初始武政度W2dB不需要采取指此“核时灵政也初始灵敏度<-2dB应卓田设置,并卓款检必上次设置府所检验的焊缰>2dB应IR新设置.并加上一次行效“核以来所仃的记求跳陷够示进行中新检骏并记戏失效阵元数Iit0不需要录取惜生X)应审新设Vt并审新检验上次设置后所校验的焊燎女核时反射体深度-初始反射体深收Wam1.工件厚H的:n（取较大侑）不需瞿必收指的>2r三J1.r件黑吱的3%（取较大箱>应用新设JB.并篁新检验上次设置后所桧验的处缝（1复核时探头移动电离i支数-探头实测移动距肉，探头实测移动距点×<xnW瞧不需要及取描被>1%应对上次设置以后所检发的位？1世行货正5.7 扫去5.7.1 扫查方式焊缝的相控阵超声检验，股可设置剧扫描和/或戏扫描，根据被检工件的具体情况和核验要求，可选用以F方式之一进行扫查：a）纵向扫杳：一般采用带编码位置反馈的扫杳装靛实施扫食,对沿焊缝方向的骸向缺陷检验时，采用单探头位置或多探头位置的纵向垂直扫查.对垂直于焊健方向的根向缺陷检验时,采用单探头位置或多探头位置的纵向平行扫有或纵向做斜扫杳,纵向扫查发现任何可识别的缺陷显示时.均应用锯齿扫查方式或横向平行扫查方式进行补充扫查对缺陷显示进行核实.b）裾齿扫杳：通常是手动扫杳方式。纵向缺陷检骗时，采用声束垂直于焊缝的手动锯齿扫食。横向缺陪检脸时,采用声束平行于焊健或斜平行于短健的锯齿扫查.5.7.2 声京UX求5.7.3 纵向扫查声束覆蠡要求当采用斜入射横波纵向扫查时陶进行仿真分析或作图分析,确保被检验区城的声束全覆蔻.当采用斜入射横波纵向垂直扫查，在不同探头方位扫查时,应采用单个探头位置或多探头位S1.使探头出束覆击整个被检区域,当采用两个或两个以上探头位置进行分区扫查时，各分区应在厚度方向依次在焊缝中心线上，短盅相邻分区厚度的25%当采用斜入射横波纵向平行或纵向恢斜扫查时,可用多探头位置进行囹扫描扫鱼，并确保相邻探头扫衣应(前至少单个探头阵元长度的15%。旗向00到扫轰时，探头声束方向与爆注中心找夹角不大于15°.当采用直入射纵波扫查时.可用单个或多个探头位迎进行扫杳,并确保探头扇扫描洌束而被检区域全覆族.1.1.1 7.2.2锯齿扫查声束授杳要求手动锯齿扫查时，垂直于探头扫查方向的相邻两次扫SS的授施率，不低于探头单个阵元长度的15%,5.7.3 3*MttK校的时，如果使用带编码位弼.反饿的扫森装置时，其采样分辨率最大为2mm，手动打查速度应小于或等于15。IHIs,自动扫查速度应满足数据采集的要求.5.7.4 对掇饵扫充要求对接焊缝的后我可能采用的探头方位要求仙图4和我7所示，必要时应在图中各探头方位上.增加多个探头位置进行扫Si,保证相控阵声束对检测区域的覆盖.探头方位I、2、3、4采用纵向垂直扫查成锯齿扫衣，探头方位5、6、7,8、9、IQ采用洪向平行扫查。对于存在焊缝余高的焊缝,针对沿岸缝方向的横向缺陷的检测,应进行纵向简符扫杳.工件壁厚3.5mm-40mm时,应进行中“用双例口位.I：件壁摩，1.Omm-35Omm时.应进行双面双侧扫苗1 5.6.93Fr厂/【/、！2 7.5.104WJU-r"*V*T*9/1.P)外电-3.(4)/V-I/6.(8)S4时撞仰石充示，图«7对接库相控阵”9归去要求工件原件制入射领波扫ft方饿波扫青斜入射探头t/m探头方位扫描方式探头方位扫描方式出束施用3.5-6(1.3.5.6)或(2、*扫推/二次一和三次波:工件原件tm>斜入射根波扫杳比入射圾液扫查斜入射探头JKf1.tH1.探头方位扫描方式探头方位扫描方式4.7、8)或三次液和四次波>670（】、3、5、6）或（2、4、7、8）扇扫描g或io级旧描或南赛直探炙次波和二次液>401008(1.)扇扫描9.IO扇打拣一次波和二次波Xar350广8扇扫描9.IO圈扫描一次该注（1）：如果条件限制不能文的”而双W打会时，仅能实施单面双侧1iSH不便进行二次波打找时，则应增加近表面S'201111）的横潴斜入射&扪插或常规横流制探头打加以及增加近表面3'2（1.m）的代入射飒波税扫描或常规或探头日Sf1.注（2）:如型芸件架M不能实地双双侧扫过时,仅能实施班而或依扫杳.则应舶加近表面（0'20wJ的横波料入射及打描段落现用波斜探头力会，以及增加近灰面S'2011n）的“入财蝴波蛟力描或常规真探头力代,5.7.5T型焊缝扫查可能采用的探头方位要求如图5和表8所示，必要时应在图中各探头方位上.增加多个探头位置进行扫查.保证相捽阵声束对检测区域的用盅.探头方位1、2.3、4采用纵向垂出扫查或锯齿招查，探头方位5、6、7采用纵向平行扫查.对于腹板上的扫路工件耳度为35mm40mm时应进行单面扫杳,工件厚度Momm350mn耐应进行双面扫进。B5Tarag去示意图»8TaMI相控RMBA检扫充要求工件厚度tm斜入射横流有资H入射纵波力作斜入射探头）Kf1.tH1.探头方IJ扪描设置探头方位打描方式X5Mf1.R2）、3、4、5、6般扫描/二次液和三次被：或二次波和四次液>6-40M或2）、3、4、5、6申扫描7线扫描或常规在探头一次波和二次波（从腹板AS）;一次波（从巩板B扫查）>40-100IY扇扫描7承封格一次波和二次波（从旗板A扫会）；一次波（从双板BjI代）>100'350扫描7次波注（I）：料入射打ftI件“度畚学探头所处位aM慢，H入射门簧r件用度参考鬼板皿度.5.7.6 入式1座编号石去央求插入式首座角焊缝扫S可能茱用的探头方位要求如图6和衣9所示,必要时应在图中在探头扫查方位上.增加多个探头位置进行扫住.保证相控阵声束对检测区域的攫盅.探头方位1、2、3、4采用纵向垂直扫15或转齿扫在.探头方位5采用纵向平行后住.对于母管、容器或封头上的扫杳,I：件厚度为3.5mm70mm时应进行单面扫在.工件厚度为XOmnr35Omm时触进行XZ面口itB-5注：A支管或接管,B理管'容器或封头.H6入式座角择石去示国衰9排入式座角仰相拄IMg声检It的扫去襄求工件皿度（】t/m豺入轴横SU1.找11人射风波扫fi斜入射探头声束数国探头方位扫描方式探头方位扫描方式3.5-61（或2）、3.1JH扫描/f二次波和三次波：或三次波和四次波工件厚度（1t11n斜入射横波也宜直入射纵波扫簧斜入射探头声束范雨探头方位扫描方式探头方位扫描方式>6-101(成2)、3.4扇打描5线扫描或常规式探头次波和二次波（从母管、容器或加头（B）扫查）；或一次波（从文笆或接管（）11）>40-1001'4扇扫描5出打描“次波和二次波（从母管、容盎或M头（B）扫杳）：或一次波（从支笆或接管0）扫查）>100'3504班的5向扫描一次波注U）:斜入射扫查I：件厚度参考探头所处位置厚度.直入射扫查工件厚度参考支皆或理度.5.7.7 安放式角得扫查要求安放式管座角烯健打查可能采用的探头方位要求如图7和表IO所示必要时应地加探头的位置,保证相控证声束对检测区域的覆靛.探头方位1.2,3采用纵向垂直扫杳或锯齿扫查.探头方位4采用纵向平行扫查.对于支者或接管上的扫查,工件厚度为3.5mm-40mm时应进行单面扫杳，工件厚度为40mm-350mm时应进行双面扫轰。A,2B3注：从一支管或蝴.B母管、e.图7安放式管座库扫充示（图»10安施式亶角仰相控阵/检的具体要求H件工件（Dtm斜入射力会Mt入射扫杳斜入射探头泮束范围探头方位扫描方式探头方位扫描方式3.5-6I(SR2)、3庸一据/f/二次液和三次波；或三次液和四次波>6-10KiS2).3扇扪描4线扣箱或常规直探头一次波和二次波（从支管或接管（八）扫衣）：工件厚度（1）tm制入射打查宜入财打资制入射探头声束依国探头方位扫Ie方式探头方位扫描方式一次波（从母管、容器喊封头（B）打蛋）>40-1001'3功扫描4扇扫描一次波和二次波（从支管成接管（八）打有）；一次波（从电管.容器或封头（B）扫查）>100'35O1'3娟扫描4扫播一次波注（1）:斜入射打森工件原硬警考探头所处位置以度，过入射打杳工件耳改警考用管、容!S或封头厚度,6IMftg6.1 记录要求记录缺陷回波幅度Ha）大于或等于记录阈值的所有缺陷显示,铁素体钢焊鳍的缺陷显示记录阈值见表5。采用纵向扫吏时，当发现能明髭可识别的缺陷显示,如果其回波幅度低于记录阈假,应补充手动锯齿扫杳或横向平行扫杳进行显示信号的分析，以判定其是否为大于或等于记录回值的可记录缺陷显示。当发现大于或等于记录网位的显示，必要时也可采用手动锯齿扫查对缺陷I可波幡度和尺寸进行刈t和核实.对超过记录阈值的缺陷故示信号应进行分析,判定其是否为危害性洪陷（如：裂纹、未熔合和未焊透等）。应记录缺陷显示的位置、幅度和长度。6.2 缺咯B示的就窟6.2.1 位置缺陷显示的位置应包括：a）沿焊缝长度方向上X轴坐标位置；b）沿焊缝宽度方向上丫轴坐标位置：C）沿深度方向上Z轴坐标位置.6.2.2 Mft缺陷显示回波幅废以H,衣征，应测J1.t并记录与基准灵敏度GO的幅度差.6.2.3 指示长度采用最大I可波FdB法或雨点-6dB法测ht缺陷显示的指示长度.沿显示长度方向相邻的两个缺陷显示，当缺陷显示沿婢缝X方向和沿焊缝丫方向间距心和d2均小于其中较小的显示长度I.且两个缺陷显示在Z釉方向间跖h小于5mm时，应作为一个显示合并处理，如图8所示.以两0示长度及间距之和作为其指示长度.幅度应记录两个显示中的较大幅度.如果两个缺陷显示在长度方向投影在曳假,则以两个缺陷显示在长度方向上投影的左、右端点间距离作为其指示长度。缺陷显示的合并规则应依次逐个应用于相邻的缺陷显示.T-MK1.UKi2qI-T"卜C1.,VtK>2一X或丫S8跳陷显示合并不允许存在裂纹，城I未熔合及未婚透等危害性缺陷显示，不允许长度超过表11中所规定的分危害性跳陷显示.不允许缺陷般示幡度低于记泵阀（fi但长度大于或等于20Onm的映陷显示.*11铁体库相控阵声检Ift华能性缺IM示*收标濯工件即度Iu赫笥W示的帕度IhXdB块陷显示电大允许Kwr/（1#15<1.<6>不允许G-6<H4G012ftt<50><不允许Go-6<U(21/3(以小12)50<tC200Ht>Gd*6不允许G<H.£G(>伸t3(*450)Gr6<UG23（最大为752(XKtW350JU>G不允许Go6<UG075注：H,为缺陷显示回波幡度G0为基准灵班,度.8检报害检验报告应至少包括下到内容：检验单位；一一被检1.件或被检部位的名称'编号.M场、规格、热处理状态和焊接方法：一一检验规程编号和版本：检验用设备（检验设备.探头、根块、然合剂、打查装置、试块名称和编号）和橘合剂:一表面状态：检验工艺参数：灵敏度、激发阵元数量、激发阵元起始位罚、扫描方式和扫查方式、桩示方式、探头位置、聚焦深度、角度范围、和耦合补偿盘等.一一检验部位示意图,若有几何形状限制而不可检部位应予以说明缺陷的尺寸、位置、回披幅度和性质：一缺陷截图：S扫描、C扫描或D扫描等，以能直实反映缺陷情况为晚则，.检监人员、审核人员和资格等级：检验日期.M«A相控阵0声检仪性传掰*要求相控阵超曲检验仪性能指标要求见无A.I.电气件能测试方法参照JBJT11779的规定.表A.1相拄阵超声检验仪性倭指标要求序号性能指标要未I性徒要求(1.)c-3(BMt.工作犊率范Hi为1.三izT5NHz.2)包个通遒的正农我性整不超过31水平线性WI整不超过1%.3)任意连续20dB.衰MJS审计误差不大丁1.d8;任意连续以M8.衰减器累计设差不大于2dB.力M冲甲乂频率展可调.Mk低应能达到50。也及以上.5数字采样频率至少K)倍干对能使I1.1.的M隔探头标林顿率(6)仪器至少傥以256援灰境或色收技示相控阵超尚图像.2功能要求(1)仪据的故据采集应和扫查装区的格动同步,扫奇步进伊应可调(2)至少应具有也声发射、接收.故大、故把自动采集、记录、显示和分析功能3具有用收增益补悌功能力仪据应能存他和分阱采集信号之间相对位置的信£.1*iWf置<5)相控阵起声柱发氧示应至少包括A扫描信.S扫描及C扫描的图像.(6)仪器发件至少应具有同步显示相控阵却於图侬和对应的AjJ播佶号警必要的分析功能(7)仪器应能够以不可更改的方式将所有的A扪描信号和相控阵越声图像存储TBh光等永久介质.并能输出其傀拷贝.(8)仪器应能师选择分班的扫描时间窗I1.以检验到雷要的信弓.词门位应和门福任Jfc可调(9)仪器可具右迪波、取液幅阈值等数字信号处理功能，但仪器应能记录未径处理之前的泉始检验数据(1府具有聚焦法则生成的校械软件,能妙计算或从外部导入聚靛法则，对超声波束恃征警散进行直接修改削量BG1.重性射量)相拄阵0-绿头性摘标要求相控阵/声探头性能指标要求见表B1.测试方法参照JB，T11731的规定。«B.1.相控阵超声探头性能指标要求序号性能指标要求1性能姿求(I)分体式探头表面与楔块的何欧应不大于仇05<n»(2)实测所行阵元的中心炖率与标称领率的传烂W±10%(3)实测所行阵元的-6dB始带相对宽度标称位(4)实测所有阵元PH抗极或棉电容与标软僮的偏差W±20t(5)实测所有阵元的捋续脉冲时间1.j标称(f1.mw¾±o¼2度他要求(I)实测所有阵元脓冲同波灵破度与标称位的偏整W±3dB(2)相究阵元何事扰值应不大于25dB(3)探头梃块波束角在标教角度的士2以内